Журнал | Кафедра физики полупроводников
EMSSL Лаборатория электронной микроскопии
и субмикронных структур,
© 2000
Части лекции: 1 |  2 |  3 |  4 |  5

Основные моды работы

    Контактная мода.
  1. Топография. F=const.
  2. Измерение сил. Z=const.
  3. Измерение сил трения.
  4. Измерение локальной жесткости (модуляционная методика).
  5. Измерение сопротивления растекания.
    Резонансная мода.
  1. Топография.
  2. Фазовый контраст.
  3. Магнито-силовая микроскопия.
  4. Электристатическо-силовая микроскопия.
    Бесконтактная мода.
    Литография.
  1. Механическая.
  2. Электрическая.

Достижения в мире АСМ

Специалисты из Massachusetts Institute of Technology и Stanford University предложили терабитную плотность записи для ЗУ с помощью АСМ технологии при комнатной температуре и на воздухе (локальное окисление на поверхности титана). Специалисты лаборатории Lindsay Florida Institute of Technology активно исследуют ДНК и РНК с помощью метода АСМ. Специалисты Institute of Applied Physics and Microstructure Research Center, University of Hamburg исследуют плёнки фуллеренов С60 на различных поверхностях.

В Laboratory of Applied Physics, Linkoping University (Швеция) изучается взаимодействие в полиэлектролитах.

Таким образом, очень разнообразная тематика может быть затронута в исследованиях с помощью метода сканирующей силовой микроскопии.

О нас

В данный момент в лаборатории с помощью метода АСМ исследуется поверхность кремния после эпитаксии, сублимации травления кислородом, после эшелонирования. С помощью АСМ были визуализированы моноатомные ступени на поверхности кремния с индексами Миллера (111).

Моноатомные ступени на поверхности кремния.

Моноатомные ступени на поверхности кремния.

Перспективы

Как уже было сказано, метод Атомно-силовой микроскопии может быть использован для производства ЗУ с терабитной плотностью записи. Так специалисты IBM разработали специальную матрицу кантилеверов 32х32 штуки, что позволяет одновременно проводить литографию тысячей кантилеверов. Метод позволяет узнать качественно новую информацию не только о поверхности но и о приповерхностных слоях, — это приведет к развитию диагностики в различных направлениях, — магнитная диагностика АСМ , электростатическая, электропроводная и т. п.
Предыдущая часть В начало